Chip IC, sai più o meno? I chip, noti anche come circuiti integrati, si trovano nei nostri telefoni, computer e altri dispositivi. Un piccolo chip in realtà contiene molte cose, come capacità, resistenza e così via. Tutti i componenti formano un insieme su un unico substrato. In un circuito così sofisticato, come rilevare i difetti se si verificano?
Il metodo tradizionale di rilevamento del chip consiste nel separare il chip strato per strato e osservare ogni strato della superficie del chip con un microscopio. Questo metodo non solo non è in grado di osservare i difetti del chip in modo completo, ma può anche causare alcuni danni al chip.
Ora il popolare test non distruttivo X-RAY, non solo non distruggerà il chip, ma può anche ottenere il rilevamento del 100%, risolvendo completamente gli inconvenienti del tradizionale rilevamento del chip. Il rilevamento dei raggi X è l'uso della penetrazione dei raggi X, attraverso il soggetto per visualizzare immagini ad alta definizione sul sistema di imaging, le persone possono vedere chiaramente la posizione e le dimensioni dei difetti del chip.
X-RAY NDT non può essere utilizzato solo nel rilevamento di chip, ma può anche essere utilizzato nel rilevamento di difetti di lampadine a LED, batterie al litio e semiconduttori.
Quindi il contenuto di cui sopra è il motivo per cui il rilevamento X-RAY può sostituire il tradizionale metodo di rilevamento del chip di risposte pertinenti, spero di aiutarti, hai bisogno di apparecchiature di rilevamento X-RAY gli amici possono cercare Dataflex per vedere oh
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